Matches in Wikidata for { <http://www.wikidata.org/entity/Q111518400> ?p ?o ?g. }
Showing items 1 to 60 of
60
with 100 items per page.
- Q111518400 description "article científic" @default.
- Q111518400 description "article scientifique" @default.
- Q111518400 description "articol științific" @default.
- Q111518400 description "articolo scientifico" @default.
- Q111518400 description "artigo científico" @default.
- Q111518400 description "artigo científico" @default.
- Q111518400 description "artigo científico" @default.
- Q111518400 description "artikel ilmiah" @default.
- Q111518400 description "artikull shkencor" @default.
- Q111518400 description "artículo científico" @default.
- Q111518400 description "artículu científicu" @default.
- Q111518400 description "bilimsel makale" @default.
- Q111518400 description "maqolai ilmiy" @default.
- Q111518400 description "scienca artikolo" @default.
- Q111518400 description "scientific article published on 31 March 2022" @default.
- Q111518400 description "vedecký článok" @default.
- Q111518400 description "vetenskaplig artikel" @default.
- Q111518400 description "vitenskapelig artikkel" @default.
- Q111518400 description "vitskapeleg artikkel" @default.
- Q111518400 description "vědecký článek" @default.
- Q111518400 description "wetenschappelijk artikel" @default.
- Q111518400 description "wissenschaftlicher Artikel" @default.
- Q111518400 description "мақолаи илмӣ" @default.
- Q111518400 description "наукова стаття, опублікована в березні 2022" @default.
- Q111518400 description "научная статья" @default.
- Q111518400 description "научни чланак" @default.
- Q111518400 description "מאמר מדעי" @default.
- Q111518400 description "مقالة علمية" @default.
- Q111518400 description "বৈজ্ঞানিক নিবন্ধ" @default.
- Q111518400 name "Detection of Monocrystalline Silicon Wafer Defects Using Deep Transfer Learning" @default.
- Q111518400 type Item @default.
- Q111518400 label "Detection of Monocrystalline Silicon Wafer Defects Using Deep Transfer Learning" @default.
- Q111518400 prefLabel "Detection of Monocrystalline Silicon Wafer Defects Using Deep Transfer Learning" @default.
- Q111518400 P1433 Q111518400-B79FA295-1E6D-4EF6-9151-DEE3C88EFB5D @default.
- Q111518400 P1476 Q111518400-C48305FC-BBEC-495A-A6A0-60CB07255F18 @default.
- Q111518400 P2093 Q111518400-0A192FEA-C030-4309-86E7-9B28B9FD2D82 @default.
- Q111518400 P2093 Q111518400-1D34CE7F-6917-45BB-A1B2-89046081BACB @default.
- Q111518400 P2093 Q111518400-3561B510-9D01-4199-B38B-290F0E47A847 @default.
- Q111518400 P2093 Q111518400-8E12942D-B573-4831-BF56-2571117E3C98 @default.
- Q111518400 P304 Q111518400-8E37577E-BB5C-460C-9397-F9F2B938DFAD @default.
- Q111518400 P31 Q111518400-CCCFBB09-A273-4D13-9E38-CD0A632FF592 @default.
- Q111518400 P356 Q111518400-43E62940-A80F-4985-B272-2591FC182E33 @default.
- Q111518400 P433 Q111518400-256CB871-9902-4225-9A4C-9DC9957E8E94 @default.
- Q111518400 P478 Q111518400-501C607B-020B-4600-A6AF-1DBD93F3A566 @default.
- Q111518400 P577 Q111518400-C215DF03-E8C5-4C6E-B840-8E6FC04FCAA8 @default.
- Q111518400 P921 Q111518400-EDF540FF-2F0A-45D3-8EFF-0A550007F737 @default.
- Q111518400 P356 JTIT.2022.156321 @default.
- Q111518400 P1433 Q9356488 @default.
- Q111518400 P1476 "Detection of Monocrystalline Silicon Wafer Defects Using Deep Transfer Learning" @default.
- Q111518400 P2093 "Adriana Ganum" @default.
- Q111518400 P2093 "Ahmad Hadinata Fauzi" @default.
- Q111518400 P2093 "D. N. F. Awang Iskandar" @default.
- Q111518400 P2093 "Lim Phei Chin" @default.
- Q111518400 P304 "34-44" @default.
- Q111518400 P31 Q13442814 @default.
- Q111518400 P356 "10.26636/JTIT.2022.156321" @default.
- Q111518400 P433 "2022" @default.
- Q111518400 P478 "1" @default.
- Q111518400 P577 "2022-03-31T00:00:00Z" @default.
- Q111518400 P921 Q112692926 @default.