Matches in Wikidata for { <http://www.wikidata.org/entity/Q116092667> ?p ?o ?g. }
Showing items 1 to 16 of
16
with 100 items per page.
- Q116092667 description "GEPRIS Projekt" @default.
- Q116092667 description "німецький дослідницький проєкт GEPRIS" @default.
- Q116092667 name "Defect and interfacial characterization of SiC wafers, structures and devices based on electron microscope techniques" @default.
- Q116092667 type Item @default.
- Q116092667 label "Defect and interfacial characterization of SiC wafers, structures and devices based on electron microscope techniques" @default.
- Q116092667 prefLabel "Defect and interfacial characterization of SiC wafers, structures and devices based on electron microscope techniques" @default.
- Q116092667 P31 Q116092667-C01F7697-9177-45D8-AE23-FD33565293A9 @default.
- Q116092667 P31 Q116092667-EBA59B1F-1FE2-48B6-B9A5-4AA082EB6F16 @default.
- Q116092667 P4870 Q116092667-11D3651D-1006-4F41-BB0D-477F9739A649 @default.
- Q116092667 P859 Q116092667-9725C5F6-DFB1-4BB9-8DA8-53E90143D0E8 @default.
- Q116092667 P921 Q116092667-4B2039B0-F6D8-42B3-9C13-A2619BB58F7D @default.
- Q116092667 P31 Q1241025 @default.
- Q116092667 P31 Q1298668 @default.
- Q116092667 P4870 "5368708" @default.
- Q116092667 P859 Q707283 @default.
- Q116092667 P921 Q413 @default.