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- Q121057418 description "2011 nî lūn-bûn" @default.
- Q121057418 description "2011年の論文" @default.
- Q121057418 description "2011年学术文章" @default.
- Q121057418 description "2011年学术文章" @default.
- Q121057418 description "2011年学术文章" @default.
- Q121057418 description "2011年学术文章" @default.
- Q121057418 description "2011年学术文章" @default.
- Q121057418 description "2011年学术文章" @default.
- Q121057418 description "2011年學術文章" @default.
- Q121057418 description "2011年學術文章" @default.
- Q121057418 description "2011年學術文章" @default.
- Q121057418 description "2011年學術文章" @default.
- Q121057418 description "2011년 논문" @default.
- Q121057418 description "article scientifique publié en 2011" @default.
- Q121057418 description "artículo científico publicado en 2011" @default.
- Q121057418 description "artículu científicu espublizáu en 2011" @default.
- Q121057418 description "scholarly article in Systems Engineering-Theory & Practice, no. 8, 2011" @default.
- Q121057418 description "наукова стаття, опублікована у 2011" @default.
- Q121057418 name "Modelling and analysis of semiconductor test system with quality re-entrance and stochastic characteristic" @default.
- Q121057418 name "芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析" @default.
- Q121057418 type Item @default.
- Q121057418 label "Modelling and analysis of semiconductor test system with quality re-entrance and stochastic characteristic" @default.
- Q121057418 label "芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析" @default.
- Q121057418 prefLabel "Modelling and analysis of semiconductor test system with quality re-entrance and stochastic characteristic" @default.
- Q121057418 prefLabel "芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析" @default.
- Q121057418 P1433 Q121057418-20F68D5F-CC9A-45B0-9505-E86E06E6FF4E @default.
- Q121057418 P1476 Q121057418-80C57FD1-C972-4D03-A2CF-EF0F6271C2DA @default.
- Q121057418 P1476 Q121057418-BF62BF1F-1D3F-4F96-B1E4-44C65ECD1047 @default.
- Q121057418 P2093 Q121057418-3FAC7D2E-3297-4DB1-BDDD-1AE128FEE5D9 @default.
- Q121057418 P2093 Q121057418-5286C0C0-E0F5-477F-BB7A-05D4034EBB0F @default.
- Q121057418 P2093 Q121057418-8D36DB8F-AEF4-46DD-A910-0670FF7EBC64 @default.
- Q121057418 P2093 Q121057418-C10D496B-0898-4849-8AD3-3A1A184C6D15 @default.
- Q121057418 P31 Q121057418-DD67800C-4E7A-4C92-883E-0789ED5AFE41 @default.
- Q121057418 P407 Q121057418-BCDC999F-B098-4E2E-BCD0-8272C47E900D @default.
- Q121057418 P433 Q121057418-C6B76E0C-E3DB-4182-8D07-B57A7AFAE2E9 @default.
- Q121057418 P577 Q121057418-5156F7CA-9997-475C-86E5-DA7F49025A8E @default.
- Q121057418 P6769 Q121057418-AA90BF68-E0D4-497E-9627-D50E58075487 @default.
- Q121057418 P1433 Q63712643 @default.
- Q121057418 P1476 "Modelling and analysis of semiconductor test system with quality re-entrance and stochastic characteristic" @default.
- Q121057418 P1476 "芯片测试环节质量重入随机系统建模与性能分析" @default.
- Q121057418 P2093 "李娜" @default.
- Q121057418 P2093 "李杰" @default.
- Q121057418 P2093 "江志斌" @default.
- Q121057418 P2093 "郑力" @default.
- Q121057418 P31 Q13442814 @default.
- Q121057418 P407 Q7850 @default.
- Q121057418 P433 "08" @default.
- Q121057418 P577 "2011-01-01T00:00:00Z" @default.
- Q121057418 P6769 "XTLL201108024" @default.