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- Q258563 description "FIB（聚焦离子束，Focused Ion beam)是将液态金属(Ga)离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像" @default.
- Q258563 description "Gerät zur Oberflächenanalyse und -bearbeitung" @default.
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- Q258563 description "font d'ions" @default.
- Q258563 description "широко используемая методика в материаловедении для локального анализа," @default.
- Q258563 name "Chùm iôn hội tụ" @default.
- Q258563 name "Feix d'ions enfocat" @default.
- Q258563 name "Feixe de íon focalizado" @default.
- Q258563 name "Focused Ion Beam" @default.
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- Q258563 name "fascio ionico focalizzato" @default.
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- Q258563 name "باریکه یونی متمرکز" @default.
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