Matches in Wikidata for { <http://www.wikidata.org/entity/Q34340436> ?p ?o ?g. }
- Q34340436 description "2004 nî lūn-bûn" @default.
- Q34340436 description "2004 թուականի Յունուարին հրատարակուած գիտական յօդուած" @default.
- Q34340436 description "2004 թվականի հունվարին հրատարակված գիտական հոդված" @default.
- Q34340436 description "2004年の論文" @default.
- Q34340436 description "2004年論文" @default.
- Q34340436 description "2004年論文" @default.
- Q34340436 description "2004年論文" @default.
- Q34340436 description "2004年論文" @default.
- Q34340436 description "2004年論文" @default.
- Q34340436 description "2004年论文" @default.
- Q34340436 description "2004年论文" @default.
- Q34340436 description "2004年论文" @default.
- Q34340436 description "2004年论文" @default.
- Q34340436 description "2004年论文" @default.
- Q34340436 description "2004年论文" @default.
- Q34340436 description "2004년 논문" @default.
- Q34340436 description "article científic" @default.
- Q34340436 description "article scientific" @default.
- Q34340436 description "article scientifique (publié 2004)" @default.
- Q34340436 description "articol științific" @default.
- Q34340436 description "articolo scientifico" @default.
- Q34340436 description "artigo científico (publicado na 2004)" @default.
- Q34340436 description "artigo científico (publicado na 2004)" @default.
- Q34340436 description "artigo científico" @default.
- Q34340436 description "artikull shkencor" @default.
- Q34340436 description "artikulong pang-agham" @default.
- Q34340436 description "artykuł naukowy" @default.
- Q34340436 description "artículo científico publicado en 2004" @default.
- Q34340436 description "artículu científicu espublizáu en 2004" @default.
- Q34340436 description "bilimsel makale" @default.
- Q34340436 description "bài báo khoa học" @default.
- Q34340436 description "mokslinis straipsnis" @default.
- Q34340436 description "naučni članak" @default.
- Q34340436 description "scienca artikolo" @default.
- Q34340436 description "scientific article" @default.
- Q34340436 description "teaduslik artikkel" @default.
- Q34340436 description "tieteellinen artikkeli" @default.
- Q34340436 description "tudományos cikk" @default.
- Q34340436 description "vedecký článok" @default.
- Q34340436 description "vetenskaplig artikel" @default.
- Q34340436 description "videnskabelig artikel (udgivet 2004)" @default.
- Q34340436 description "vitenskapelig artikkel" @default.
- Q34340436 description "vitskapeleg artikkel" @default.
- Q34340436 description "vědecký článek" @default.
- Q34340436 description "wetenschappelijk artikel" @default.
- Q34340436 description "wissenschaftlicher Artikel" @default.
- Q34340436 description "επιστημονικό άρθρο" @default.
- Q34340436 description "мақолаи илмӣ" @default.
- Q34340436 description "мақолаи илмӣ" @default.
- Q34340436 description "наукова стаття, опублікована в січні 2004" @default.
- Q34340436 description "научна статия" @default.
- Q34340436 description "научная статья" @default.
- Q34340436 description "научни чланак" @default.
- Q34340436 description "научни чланак" @default.
- Q34340436 description "מאמר מדעי" @default.
- Q34340436 description "سائنسی مضمون" @default.
- Q34340436 description "مقالة علمية" @default.
- Q34340436 description "مقالهٔ علمی" @default.
- Q34340436 description "২০০৪-এ প্রকাশিত বৈজ্ঞানিক নিবন্ধ" @default.
- Q34340436 description "บทความทางวิทยาศาสตร์" @default.
- Q34340436 description "სამეცნიერო სტატია" @default.
- Q34340436 name "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 name "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 name "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 type Item @default.
- Q34340436 label "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 label "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 label "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 prefLabel "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 prefLabel "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 prefLabel "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 P1433 Q34340436-D401596B-C7E6-4354-804D-30232E17D7EA @default.
- Q34340436 P1476 Q34340436-7252B45B-9BC9-439B-BA8A-403FC8E59D66 @default.
- Q34340436 P2093 Q34340436-DD0EA23D-5568-4C89-A97D-394C5C6F6AB7 @default.
- Q34340436 P304 Q34340436-8BEDD6FB-BDEB-4D9D-B82C-F70C055493B1 @default.
- Q34340436 P31 Q34340436-20360D1C-4D7C-47B8-BE24-EBDF780269B2 @default.
- Q34340436 P356 Q34340436-3C921148-CC7E-4435-A7DA-1055000A952A @default.
- Q34340436 P407 Q34340436-84B6B602-02D6-4D65-AD14-4B89A137A21A @default.
- Q34340436 P433 Q34340436-B1139AD3-77C3-44FC-BF6B-ACE3AE29AFE2 @default.
- Q34340436 P478 Q34340436-3F5AB0F5-5179-4E19-AE8C-693B77B7E906 @default.
- Q34340436 P577 Q34340436-7698EC13-341B-44EF-B053-BA9536B531B9 @default.
- Q34340436 P5875 Q34340436-57E968B9-3F52-4C5B-B5E5-81826A90F3F4 @default.
- Q34340436 P698 Q34340436-025E9C87-388E-4411-9C49-392535273D3C @default.
- Q34340436 P8608 Q34340436-DC9A3CF3-ADE8-421A-9504-704CC0FE44A0 @default.
- Q34340436 P921 Q34340436-46146636-77AE-4BC8-85E7-CBD74B4C4FD2 @default.
- Q34340436 P356 RSTA.2003.1304 @default.
- Q34340436 P698 15306276 @default.
- Q34340436 P1433 Q2153230 @default.
- Q34340436 P1476 "Sputter-depth profiling for thin-film analysis" @default.
- Q34340436 P2093 "S Hofmann" @default.
- Q34340436 P304 "55-75" @default.
- Q34340436 P31 Q13442814 @default.
- Q34340436 P356 "10.1098/RSTA.2003.1304" @default.
- Q34340436 P407 Q1860 @default.
- Q34340436 P433 "1814" @default.
- Q34340436 P478 "362" @default.
- Q34340436 P577 "2004-01-01T00:00:00Z" @default.
- Q34340436 P5875 "239038217" @default.
- Q34340436 P698 "15306276" @default.
- Q34340436 P8608 "release_xgjhfgbjxrcezddakxiqjj7taa" @default.