Matches in Wikidata for { <http://www.wikidata.org/entity/Q60229088> ?p ?o ?g. }
Showing items 1 to 38 of
38
with 100 items per page.
- Q60229088 description "artículu científicu" @default.
- Q60229088 description "im Juli 2010 veröffentlichter wissenschaftlicher Artikel" @default.
- Q60229088 description "wetenschappelijk artikel" @default.
- Q60229088 description "наукова стаття, опублікована в липні 2010" @default.
- Q60229088 name "Low voltage stress-induced leakage current in HfO2 dielectric films" @default.
- Q60229088 name "Low voltage stress-induced leakage current in HfO2 dielectric films" @default.
- Q60229088 type Item @default.
- Q60229088 label "Low voltage stress-induced leakage current in HfO2 dielectric films" @default.
- Q60229088 label "Low voltage stress-induced leakage current in HfO2 dielectric films" @default.
- Q60229088 prefLabel "Low voltage stress-induced leakage current in HfO2 dielectric films" @default.
- Q60229088 prefLabel "Low voltage stress-induced leakage current in HfO2 dielectric films" @default.
- Q60229088 P1433 Q60229088-2691A342-9695-4C8E-BE4C-964CE18D2A2F @default.
- Q60229088 P1476 Q60229088-D739BF41-7F37-4963-9E74-CDC0FFC329D0 @default.
- Q60229088 P2093 Q60229088-80F5555E-9BD0-4472-BE27-E7F3ED69805D @default.
- Q60229088 P2093 Q60229088-A182F09B-E932-4377-82E8-7312B990F159 @default.
- Q60229088 P2093 Q60229088-CB0E07A6-F1A2-4E4D-B6BA-845350F064FF @default.
- Q60229088 P2093 Q60229088-DB7F6508-B64D-4040-AB09-B1B578ACF878 @default.
- Q60229088 P304 Q60229088-F989C185-2BED-44CF-8EB1-919C78B69BE0 @default.
- Q60229088 P31 Q60229088-E58845CC-9067-414B-8638-5959AF3824C4 @default.
- Q60229088 P356 Q60229088-9D569A82-8C71-4F7E-AA8A-533F943AA940 @default.
- Q60229088 P433 Q60229088-DE3D5AC4-5022-47A1-8F54-BE21C5AFA8A3 @default.
- Q60229088 P478 Q60229088-306ADDB4-14CA-4D83-9D5B-026D570D189B @default.
- Q60229088 P577 Q60229088-4EC609D1-F8DF-4F02-A4A4-A51E05F932CA @default.
- Q60229088 P921 Q60229088-AF51DBCD-FFAA-4576-8A30-7661E4EA7A68 @default.
- Q60229088 P356 J.MSEB.2010.03.091 @default.
- Q60229088 P1433 Q15750647 @default.
- Q60229088 P1476 "Low voltage stress-induced leakage current in HfO2 dielectric films" @default.
- Q60229088 P2093 "Hao Tian" @default.
- Q60229088 P2093 "Tingting Tan" @default.
- Q60229088 P2093 "Wenting Liu" @default.
- Q60229088 P2093 "Zhengtang Liu" @default.
- Q60229088 P304 "159-161" @default.
- Q60229088 P31 Q13442814 @default.
- Q60229088 P356 "10.1016/J.MSEB.2010.03.091" @default.
- Q60229088 P433 "1-3" @default.
- Q60229088 P478 "171" @default.
- Q60229088 P577 "2010-07-01T00:00:00Z" @default.
- Q60229088 P921 Q214781 @default.