Matches in Wikidata for { <http://www.wikidata.org/entity/Q60229092> ?p ?o ?g. }
Showing items 1 to 36 of
36
with 100 items per page.
- Q60229092 description "article scientifique publié en 2006" @default.
- Q60229092 description "im Mai 2006 veröffentlichter wissenschaftlicher Artikel" @default.
- Q60229092 description "wetenschappelijk artikel" @default.
- Q60229092 description "наукова стаття, опублікована в травні 2006" @default.
- Q60229092 name "Conductive atomic force microscopy studies of thin SiO2 layer degradation" @default.
- Q60229092 name "Conductive atomic force microscopy studies of thin SiO2 layer degradation" @default.
- Q60229092 type Item @default.
- Q60229092 label "Conductive atomic force microscopy studies of thin SiO2 layer degradation" @default.
- Q60229092 label "Conductive atomic force microscopy studies of thin SiO2 layer degradation" @default.
- Q60229092 prefLabel "Conductive atomic force microscopy studies of thin SiO2 layer degradation" @default.
- Q60229092 prefLabel "Conductive atomic force microscopy studies of thin SiO2 layer degradation" @default.
- Q60229092 P1433 Q60229092-7E10F567-58B8-4257-B17E-C78D5DEFB812 @default.
- Q60229092 P1476 Q60229092-321A2436-EFAF-4978-A85C-6B7E4FA8B1C7 @default.
- Q60229092 P2093 Q60229092-8CC09DEF-1391-4254-878A-14E0C27C47BD @default.
- Q60229092 P2093 Q60229092-A8F81318-D9E2-42DC-86FA-FFFD5576B758 @default.
- Q60229092 P304 Q60229092-B334E76B-5781-4E6A-954A-75E420215D7E @default.
- Q60229092 P31 Q60229092-6A825239-C432-460E-8F79-747307B4F121 @default.
- Q60229092 P356 Q60229092-077B0239-D227-4A3A-AA20-7BB3A95B8676 @default.
- Q60229092 P407 Q60229092-FB713F79-5E96-4BA2-AC79-8CC0A325E72F @default.
- Q60229092 P433 Q60229092-B547FBDF-56E1-4854-B275-B6977DDAFC75 @default.
- Q60229092 P478 Q60229092-4458ED5C-3E4B-429C-B9A4-8340564F430A @default.
- Q60229092 P50 Q60229092-22A6283B-849C-4B3D-9318-154C1F83CE48 @default.
- Q60229092 P577 Q60229092-4E5A1729-D8ED-4C60-AF84-1DC4B3FD601E @default.
- Q60229092 P356 1.2208370 @default.
- Q60229092 P1433 Q621615 @default.
- Q60229092 P1476 "Conductive atomic force microscopy studies of thin SiO2 layer degradation" @default.
- Q60229092 P2093 "Wilfried Vandervorst" @default.
- Q60229092 P2093 "Wouter Polspoel" @default.
- Q60229092 P304 "222104" @default.
- Q60229092 P31 Q13442814 @default.
- Q60229092 P356 "10.1063/1.2208370" @default.
- Q60229092 P407 Q1860 @default.
- Q60229092 P433 "22" @default.
- Q60229092 P478 "88" @default.
- Q60229092 P50 Q58831533 @default.
- Q60229092 P577 "2006-05-29T00:00:00Z" @default.