Matches in Wikidata for { <http://www.wikidata.org/entity/Q61825987> ?p ?o ?g. }
Showing items 1 to 40 of
40
with 100 items per page.
- Q61825987 description "article scientifique publié en 2008" @default.
- Q61825987 description "wetenschappelijk artikel" @default.
- Q61825987 description "наукова стаття, опублікована в жовтні 2008" @default.
- Q61825987 name "Leakage currents and dielectric breakdown of Si1−x−yGexCy thermal oxides" @default.
- Q61825987 name "Leakage currents and dielectric breakdown of Si1−x−yGexCy thermal oxides" @default.
- Q61825987 type Item @default.
- Q61825987 label "Leakage currents and dielectric breakdown of Si1−x−yGexCy thermal oxides" @default.
- Q61825987 label "Leakage currents and dielectric breakdown of Si1−x−yGexCy thermal oxides" @default.
- Q61825987 prefLabel "Leakage currents and dielectric breakdown of Si1−x−yGexCy thermal oxides" @default.
- Q61825987 prefLabel "Leakage currents and dielectric breakdown of Si1−x−yGexCy thermal oxides" @default.
- Q61825987 P1433 Q61825987-11BA8F1B-6F4C-419E-BB42-646B12F166D2 @default.
- Q61825987 P1476 Q61825987-D3C92FE4-B47B-40CC-A5FD-60096092645E @default.
- Q61825987 P2093 Q61825987-EFAFE6A6-0746-48EA-8A28-C14A773D858F @default.
- Q61825987 P304 Q61825987-0B51D982-D92F-4EBF-97CF-A78C56E0DBBF @default.
- Q61825987 P31 Q61825987-4F58268A-35A3-4DC5-8F8B-0F4E7E9B678D @default.
- Q61825987 P356 Q61825987-1E7589B1-A613-41E6-A236-027FF90CCA01 @default.
- Q61825987 P433 Q61825987-595C089F-FD53-49BB-BD05-34B408556F8C @default.
- Q61825987 P478 Q61825987-E9EA76B2-D4E8-4902-9A59-1D5F5ABF51FF @default.
- Q61825987 P50 Q61825987-DB087265-86E8-4CF9-861E-EAA9E6B91CD6 @default.
- Q61825987 P50 Q61825987-F019F2F4-E947-4070-AF09-BA3B5F6FB6D3 @default.
- Q61825987 P50 Q61825987-FE5AFBFB-8A75-489B-BFD4-809963494614 @default.
- Q61825987 P577 Q61825987-31C5E08A-92A1-4D5D-93D3-E172860881F0 @default.
- Q61825987 P8978 Q61825987-B1F848CB-7344-42D3-B78D-94C98C48F0E3 @default.
- Q61825987 P921 Q61825987-73F97B07-929D-42ED-9F14-65F6217AB218 @default.
- Q61825987 P356 J.MICROREL.2008.07.061 @default.
- Q61825987 P8978 CuadrasGMF08 @default.
- Q61825987 P1433 Q13852898 @default.
- Q61825987 P1476 "Leakage currents and dielectric breakdown of Si1−x−yGexCy thermal oxides" @default.
- Q61825987 P2093 "B. Garrido" @default.
- Q61825987 P304 "1635-1640" @default.
- Q61825987 P31 Q13442814 @default.
- Q61825987 P356 "10.1016/J.MICROREL.2008.07.061" @default.
- Q61825987 P433 "10" @default.
- Q61825987 P478 "48" @default.
- Q61825987 P50 Q58476301 @default.
- Q61825987 P50 Q58810618 @default.
- Q61825987 P50 Q61827490 @default.
- Q61825987 P577 "2008-10-01T00:00:00Z" @default.
- Q61825987 P8978 "journals/mr/CuadrasGMF08" @default.
- Q61825987 P921 Q214781 @default.