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- W1975412591 abstract "The paper deals with the calculation of the image contrast of a divergent wall as a function of the accelerating voltage in the defocussed mode of Lorentz microscopy. The influence of the following three quantities on the image contrast is considered: (i) the magnetic scattering angle φm, (ii) the finite source illumination angle αo, and (iii) an angle αs which describes the beam broadening due to inelastic scattering of the electrons in the sample. It is shown that φm and αs depend in essentially different ways on the accelerating voltage. As a consequence the contrast increases with accelerating voltages and — under normal operational conditions — reaches a flat maximum between 400 and 700 kV. The theoretical predictions are in reasonable agreement with experimental results obtained on permalloy films of 1500 and 2000 Å thicknesses. Der Bildkontrast einer divergenten Wand, der sich bei defokussierter lorentzmikroskopischer Abbildung ergibt, wird als Funktion der Beschleunigungsspannung berechnet. Der Einfluß folgender drei Größen auf den Kontrast wird berücksichtigt: 1. der magnetische Streuwinkel φm, 2. die endliche Beleuchtungsapertur αo und 3. ein Winkel αs, der die Verbreiterung des Elektronenstrahls durch die inelastischen Streuprozesse in der Probe charakterisiert. φm und αs hängen in wesentlich verschiedener Weise von der Beschleunigungsspannung ab. Als Folge davon steigt der Kontrast mit steigender Beschleunigungsspannung an und erreicht ein flaches Maximum, das unter normalen experimentellen Bedingungen zwischen 400 und 700 kV liegt. Die theoretischen Voraussagen sind in befriedigender Übereinstimmung mit experimentellen Ergebnissen, die an Permalloy-Filmen von 1500 bzw. 2000 Å gewonnen wurden." @default.
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