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- W1985474313 abstract "In the theoretical description of reflection and transmission coefficients through a system with a layer much thicker than the wavelength the fluctuations of the thickness Δd/d and the spectrometer resolution Δλ/λ must be taken into consideration. The connection between the measured averaged values and the reflection and transmission coefficients from the front and back sides into the substrate is given by a Fourier sum. The total averages correspond to the summation over all light intensities caused by multiple incoherent internal reflections inside the substrate layer. As a special result of this analysis the measurement of the absorption in a thin layer by only reflection measurement will be demonstrated in a following paper. For smaller fluctuations the distribution function or better its Fourier components can also be measured by the analysis of the remaining interference effects. In der theoretischen Beschreibung der Reflexions- und Transmissionskoeffizienten eines Systems mit einer Schicht, die viel dicker als die Wellenlänge ist, müssen Schwankungen der Dicke Δd/d und die Auflösung des Spektrometers Δλ/λ berücksichtigt werden. Der Zusammenhang zwischen den gemessenen Mittelwerten und den Reflexions- und Transmissionskoeffizienten für die Einstrahlung von der Vorder- bzw. Rückseite ins Substrat wird über Fourier-Summen hergestellt. Die totale Mittelung entspricht der inkohärenten Überlagerung aller Beiträge der Vielfachreflexionen innerhalb der Substrat-Schicht. Als eine Schlußfolgerung aus dieser Analyse wird in einer weiteren Veröffentlichung die Bestimmung der Absorption in einer dünnen Schicht allein aus Reflexionsmessungen demonstriert. Für kleinere Schwankungen kann auch die Verteilungsfunktion, d. h. ihre Fourier-Komponenten, aus der Analyse der verbleibenden Interferenzeffekte ermittelt werden." @default.
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