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- W1991193695 abstract "CdTe single crystals doped with phosphorus by 0.03 at% are heat-treated under component vapour pressures at 700 °C and quenched after that. The variation of the carrier concentration with time is observed at room temperature especially in the samples treated at low PCd. Temperature depend ences of the carrier concentration and the mobility are measured about one month after heat-treatment and analysed in detail. Carrier concentrations show maximum at the PCd of about 5 × 10−3 atm. In the samples treated at low PCd, the acceptor concentration decreases with decreasing PCd and it results in the decrease of the carrier concentration, and many neutral scattering centres are obtained. In the samples treated at high PCd, the acceptor concentration is constant and about 1 × 1018 cm−3 but the carrier concentration decreases with increasing PCd as a result of the increase of compensating donors. The conduction in those samples are estimated to be affected by the local field due to strong compensation and or by impurity conduction. Mit 0,03 At% Phosphor dotierte CdTe-Einkristalle werden unter Komponentendampfdruck bei 700 °C getempert und danach abgeschreckt. Eine Veräderung der Ladungsträgerdichte mit der Zeit wird bei Raumtemperaturen besonders in bei niedrigem PCd behandelten Proben beobachtet. Temperaturabhängigkeit der Ladungsträerdichten und der Beweglichkeiten wird etwa einen Monat nach Wärmebehandlung gemessen und detailliert analysiert. Die Ladungsträgerdichte zeigt ein Maximum bei etwa 5 × 10−3 Atm PCd. In bei niedrigen PCd behandelten Proben nimmt die Akzeptroendichte mit abnehmenden PCd ab und führt zur Abnahme der Ladungsträgerdichten, und viele neutrale Streuzentren werden erhalten. In den bei hohem PCd behandelten Proben ist die Akzeptorendichte konstant und etwa 1 × 1018 cm−3, aber die Ladungsträgerdichte nimmt mit zunehmenden PCd ab, weil die Kompensationsdonatoren zunehmen. Es wird berechnet, daß die Leitung in diesen Proben vom Lokalfeld beeinflußt wird, das auf starke Kompensationen und oder Störleitung zurückzuführen ist." @default.
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