Matches in SemOpenAlex for { <https://semopenalex.org/work/W1994029560> ?p ?o ?g. }
- W1994029560 endingPage "577" @default.
- W1994029560 startingPage "564" @default.
- W1994029560 abstract "Owing to their extremely aspect ratios, most thin films are unstable and when they are heated, they will dewet or agglomerate to form islands. This process can occur in the solid state through capillary-driven surface self-diffusion. A key feature of the dewetting process is the retraction of the edges of the film, either natural edges, patterned edges, or edges where holes have formed. Models of edge retraction have been previously developed for isotropic materials and anisotropic materials with differentiable surfaces, but the effects of faceting in highly anisotropic materials have been largely unexplored. Here, we present a two-dimensional model of edge retraction for highly anisotropic, fully-faceted thin films. This model shows generally good agreement with experimental results for edge retraction of single-crystal Ni films on MgO. In both experiments and the model, rims form as the edges retract. The effects of adjusting various physical parameters on the edge retraction rate and the evolving rim geometry were explored using the model. The film thickness, surface self-diffusivity on the top facet of the rim, the equivalent contact angle of the film on the substrate, and the absolute value of the surface energies were found to be the factors that have the greatest influence on the edge retraction rate. In isotropic models and some experimental systems, valleys form ahead of the retracting rims and deepen to contact the substrate and cause pinch-off. Our model suggests that this form of pinch-off will not occur when the rim is fully faceted and the top surface is an equilibrium facet. However, pinch-off can occur through film thinning and for films with top surfaces that do not form flat equilibrium facets. Du fait de leurs rapports dʼaspect extrêmement élevés, la plupart des films fins sont instables et, lorsquʼils sont chauffés, ils démouillent ou sʼagglomèrent pour former des îlots. Ce processus peut se produire à lʼétat solide grâce à la diffusion de surface induite par la capillarité. Un trait caractéristique du processus de démouillage est la rétractation des bords du film, quʼils soient naturels ou structurés, ou autour des trous qui se forment dans le film. Des modèles de rétractation de bords ont été précédemment développés pour des matériaux isotropes et anisotropes avec des surfaces différentiables, mais les effets du facettage dans les matériaux hautement anisotropes sont largement inexplorés. Nous présentons ici un modèle à deux dimensions de la rétractation des bords pour des films minces hautement anisotropes, complètement facettés. Ce modèle montre généralement un bon accord avec les résultats expérimentaux pour la rétractation de films de nickel monocristallins sur MgO. À la fois dans les expériences et le modèle, des fronts se forment lorsque les bords se rétractent. Les effets de lʼajustement de divers paramètres physiques sur le taux de rétractation des bords et la géométrie des bourrelets en évolution ont été explorés en utilisant le modèle. Lʼépaisseur du film, lʼautodiffusivité de surface sur la facette supérieure du front, lʼangle de contact équivalent du film sur le substrat, ainsi que la valeur absolue des énergies de surface se sont révélés être les facteurs qui influencent le plus le taux de rétractation des bords. Dans les modèles isotropes et certains systèmes expérimentaux, des vallées se forment à lʼavant des fronts de rétractation et sʼapprofondissent pour entrer en contact avec le substrat et mener à la rupture du film. Notre modèle suggère que cette forme de rupture ne se produira pas lorsque le front est complètement facetté et que sa surface supérieure est une facette dʼéquilibre. Pourtant, cette rupture du film peut survenir via lʼamincissement de films ainsi que pour des films dont les surfaces supérieures ne forment pas de facettes dʼéquilibre." @default.
- W1994029560 created "2016-06-24" @default.
- W1994029560 creator A5015699855 @default.
- W1994029560 creator A5026389537 @default.
- W1994029560 creator A5034404067 @default.
- W1994029560 creator A5076111006 @default.
- W1994029560 date "2013-08-01" @default.
- W1994029560 modified "2023-09-25" @default.
- W1994029560 title "A model for solid-state dewetting of a fully-faceted thin film" @default.
- W1994029560 cites W1982630680 @default.
- W1994029560 cites W1982710063 @default.
- W1994029560 cites W1986624772 @default.
- W1994029560 cites W1988302850 @default.
- W1994029560 cites W1988821810 @default.
- W1994029560 cites W1994661754 @default.
- W1994029560 cites W1996850285 @default.
- W1994029560 cites W1998448837 @default.
- W1994029560 cites W2008070908 @default.
- W1994029560 cites W2009785047 @default.
- W1994029560 cites W2011366014 @default.
- W1994029560 cites W2017334281 @default.
- W1994029560 cites W2017773270 @default.
- W1994029560 cites W2021445952 @default.
- W1994029560 cites W2024042925 @default.
- W1994029560 cites W2030195727 @default.
- W1994029560 cites W2043324915 @default.
- W1994029560 cites W2049017279 @default.
- W1994029560 cites W2052647747 @default.
- W1994029560 cites W2056856148 @default.
- W1994029560 cites W2057549608 @default.
- W1994029560 cites W2057928500 @default.
- W1994029560 cites W2058335934 @default.
- W1994029560 cites W2071689373 @default.
- W1994029560 cites W2072572646 @default.
- W1994029560 cites W2076767250 @default.
- W1994029560 cites W2081748761 @default.
- W1994029560 cites W2084024313 @default.
- W1994029560 cites W2087795887 @default.
- W1994029560 cites W2102250878 @default.
- W1994029560 cites W2117868972 @default.
- W1994029560 cites W2148524643 @default.
- W1994029560 cites W2160581950 @default.
- W1994029560 cites W2318599595 @default.
- W1994029560 cites W2333598814 @default.
- W1994029560 doi "https://doi.org/10.1016/j.crhy.2013.06.005" @default.
- W1994029560 hasPublicationYear "2013" @default.
- W1994029560 type Work @default.
- W1994029560 sameAs 1994029560 @default.
- W1994029560 citedByCount "46" @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602014 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602015 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602016 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602017 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602018 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602019 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602020 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602021 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602022 @default.
- W1994029560 countsByYear W19940295602023 @default.
- W1994029560 crossrefType "journal-article" @default.
- W1994029560 hasAuthorship W1994029560A5015699855 @default.
- W1994029560 hasAuthorship W1994029560A5026389537 @default.
- W1994029560 hasAuthorship W1994029560A5034404067 @default.
- W1994029560 hasAuthorship W1994029560A5076111006 @default.
- W1994029560 hasConcept C111368507 @default.
- W1994029560 hasConcept C113231013 @default.
- W1994029560 hasConcept C120665830 @default.
- W1994029560 hasConcept C121332964 @default.
- W1994029560 hasConcept C127313418 @default.
- W1994029560 hasConcept C129955480 @default.
- W1994029560 hasConcept C150394285 @default.
- W1994029560 hasConcept C15696416 @default.
- W1994029560 hasConcept C15744967 @default.
- W1994029560 hasConcept C159985019 @default.
- W1994029560 hasConcept C162307627 @default.
- W1994029560 hasConcept C171250308 @default.
- W1994029560 hasConcept C178790620 @default.
- W1994029560 hasConcept C184050105 @default.
- W1994029560 hasConcept C185592680 @default.
- W1994029560 hasConcept C187288502 @default.
- W1994029560 hasConcept C19067145 @default.
- W1994029560 hasConcept C192562407 @default.
- W1994029560 hasConcept C26873012 @default.
- W1994029560 hasConcept C2777289219 @default.
- W1994029560 hasConcept C2865642 @default.
- W1994029560 hasConcept C41008148 @default.
- W1994029560 hasConcept C43122875 @default.
- W1994029560 hasConcept C69357855 @default.
- W1994029560 hasConcept C76155785 @default.
- W1994029560 hasConcept C77805123 @default.
- W1994029560 hasConcept C85725439 @default.
- W1994029560 hasConcept C87525152 @default.
- W1994029560 hasConcept C97355855 @default.
- W1994029560 hasConceptScore W1994029560C111368507 @default.
- W1994029560 hasConceptScore W1994029560C113231013 @default.
- W1994029560 hasConceptScore W1994029560C120665830 @default.
- W1994029560 hasConceptScore W1994029560C121332964 @default.
- W1994029560 hasConceptScore W1994029560C127313418 @default.