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• W2000434276 abstract "Nickel and nickel-cobalt manganites were investigated by transmission electron microscopy (TEM) in order to relate microstructure and phase composition to the electrical stability of these ceramics after ageing. The air-quenched samples are biphased and exhibited a perturbed microstructure with bidimensional lattice defects. It is shown that the improvement in the stability of electrical properties is not due to the existence of a precipitated phase, like NiO, but could be related to the presence of a ‘tweed’ structure, that is, a fine periodic structure built on {110} lamellae (exsolutions). Since the change in the electrical properties could be related to the Mn3+ cluster migration, it is suggested that the lattice perturbations resulting from the ‘tweed’ could slow down cluster migration and then stabilize the electrical properties of the ceramics studied. Nickel- und Nickel-Kobalt-Manganitzusammensetzungen wurden mittels Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) untersucht, um den Zusammenhang zwischen Gefüge und Phasenzusammensetzungen und der elektrischen Stabilität dieser Keramiken nach einer Auslagerung von 1000 h bei 125°C zu ermitteln. Abgeschreckte Proben sind zweiphasig und zeigen ein gestörtes Gefüge mit zahlreichen zweidimensionalen Gitterdefekten. Es wird gezeigt, daß die Verbesserung der Stabilität der elektrischen Eigenschaften nicht auf die Existenz einer Ausscheidungsphase, wie beispielsweise NiO, zurückgeht, sondern mit der Präsenz einer ‘Tweed’-artigen Struktur zusammenhängt, die aus periodisch angeordneten Lamellen längs {110} besteht. Da die Veränderung der elektrischen Eigenschaften auf die Wanderung von Mn3+-Clustern zurückgeführt wird, wurde angenommen, daß die Gitterdefekte, die die beschriebene ‘Tweed’-Struktur zur Folge haben, die Wanderung der Cluster verlangsamen und damit die elektrischen Eigenschaften der untersuchten Keramiken stabilisieren. On étudie par microscopie électronique en transmission (MET) des manganites de nickel et de nickel-cobalt afin de relier leur microstructure et leur composition à leur stabilité électrique après un vieillissement de 1000 h à 125°C. Les échantillons trempés à l'air sont biphasés et révèlent une microstructure très perturbée avec de nombreux défauts plans. On montre que l'amélioration de la stabilitéélectrique n'est pas liée à l'existence d'une phase précipitée intergranulaire telle que NiO, mais pourrait être due à la présence d'une structure en ‘tweed’ (structure modulée formée de fines lamelles {110}). Puisque les variations des propriétés électriques semblent liées à la formation de clusters Mn3+, on peut supposer que les perturbations du réseau qu'entraîne la structure en ‘tweed’ ralentissent cette migration et, par conséquent, stabilisent les propriétés électriques des céramiques étudiées." @default.
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