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- W2000521912 abstract "Abstract An mit Silber plattierten Kupferdrähten wurden bei 700° und 610° C bei einem Sauerstoffdruck von 1 atm die Diffusionsgeschwindigkeit von Sauerstoff durch Silber bestimmt. Da der durch das Silber diffundierte Sauerstoff durch Kupfer unter Bildung von Kupferoxydul „aufgezehrt”︁ wurde, konnte der Verlauf der Diffusion in einer einfachen Apparatur durch Messung der zeitlichen Druckabnahme beobachtet werden. Entgegen den Meßergebnissen anderer Arbeiten ist die Diffusionsgeschwindigkeit von Sauerstoff durch Silber nach der hier beschriebenen Methode um den Faktor 4 bis 8 größer. So beträgt die Diffusionsgeschwindigkeit in Grammatomc Sauerstoff · cm −1 · sec −1 für 700° C im Mittel 2,5 · 10 −10 und entsprechend für 610° C 9,8 · 10 −11 bei Po 2 = 1 atm. Die nach der hier beschriebenen Methode erhaltenen höheren Diffusionsgeschwindigkeiten müssen durch zusätzlich ablaufend Vorgänge eine Erhöhung erfahren haben. Die Möglichkeit einer Verkürzung des Diffusionsweges von Sauerstoff durch Diffusion von Silber und Kupfer ineinander wird diskutiert. Fernerhin bleibt noch die Möglichkeit einer mechanischen Diffusion von Sauerstoffmolekülen durch Risse und Sprünge z. B. an den Korngrenzen der Ag‐Plattierungsschicht. Eine endgültige Deutung konnte noch nicht gegeben werden. Zum Schluß wurden an Hand einer Tabelle weitere Systeme aufgezeigt, bei denen eine Messung der Diffusionsgeschwindigkeit lohnend erscheint." @default.
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