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- W2017219864 abstract "Nach einem Rückblick auf die Entstehungsgeschichte der auf der Nachionisation in einem heißen Elektronengas basierenden Methode der Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie SNMS werden deren prinzipielle Eigenschaften erläutert und denen anderer Verfahren der modernen Oberflächenanalytik gegenübergestellt. Die einfache und zuverlässige Quantifizierbarkeit der SNMS-Signale, die niedrigen Nachweisgrenzen und die hohe Tiefenauflösung der Methode werden von den Grundlagen her beschrieben und anhand ausgewählter Anwendungsbeispiele aufgezeigt. Bei den neueren methodischen Entwicklungen wird vor allem auf den Hochfrequenzmodus HFM eingegangen, mit dem die vorteilhaften Eigenschaften der konventionellen direkten Beschußmethode von SNMS auch auf die Analyse nichtleitender Probenstrukturen übertragen werden. Eine neue Generation von SNMS-Geräten soll als Option die in situ-Anwendung der röntgenstrahlinduzierten Photoelektronenspektroskopie XPS ermöglichen. Secondary neutral mass spectrometry (SNMS) based on electron gas postionization is described with regard to its historical developments, its fundamental properties and figures of merit. The quantifiability of SNMS signals, the low detection limits and the excellent depth resolution are shown to be the outstanding potentialities of SNMS. Recent and ongoing instrumental developments are described. In particular, the novel high frequency mode HFM of SNMS allows the analysis of completely or partially insulating samples in almost the same way as the conventional direct bombardment mode for conducting materials. A new generation of SNMS instruments is designed such that X-ray induced Photo Electron Spectroscopy XPS can be incorporated in situ as an option." @default.
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