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- W2076409021 abstract "Dans ce travail, nous presentons une etude comparative des techniques d'analyse par fluorescence X a dispersion d'energie (ED-XRF) et a dispersion de longueur d'onde (WD-XRF), et par spectrometrie d'emission atomique a source plasma couplee par induction (ICP-AES). Les resultats de la calibration des spectrometres a dispersion d'energie, a excitation par sources radioactives ( 55 Fe, 109 Cd et 241 Am) et a excitation secondaire (cible secondaire Mo et Cu) du Centre National pour l'Energie, les Sciences et les Techniques Nucleaires (CNESTEN, Rabat, Maroc) sur des echantillons etalons de references de l'Agence International de l'Energie Atomique (AIEA) et du Community Bureau of Reference (BCR) ont ete compares aux resultats d'analyse des memes echantillons etalons par la spectrometrie X a dispersion de longueur d'onde (WD-XRF) et par spectrometrie d'emission atomique a source plasma couple par induction (ICP-AES) au departement GENERIC du centre SPIN a l'Ecole des Mines de Saint-Etienne (France). Les trois techniques d'analyse utilisees donnent des resultats comparables pour le dosage des elements majeurs, alors que pour les traces on note des deviations importantes a cause des effets de matrice qui sont difficiles a corriger dans le cas de la fluorescence X." @default.
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