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- W2078573668 abstract "In der vorliegenden Arbeit wurde gezeigt, dass cinstufige Quarzoszillatoren auf Grand ihrer hochfrequenztechnischen Eigenschaften für die Bestimmung von Dielektrizitätskonstanten, dielektrischen Verlusten und Hochfrequenzleitfähigkeiten herangezogen werden können. Dabei wird je nach der interessierenden Grösse die Messung nach einer Kompensations- oder Ausschlagsmethode durchgeführt. Hinsichtlich der verfügbaren Mosszellen ergeben sich zahlreiche Anpassungsmöglichkeiten für Aufgabenstellungen der chemischen Analyse, indem meist empirische Zusammenhänge zwischen den genannten dielektrischen Kennzahlen und der Zusammensetzung chemischer Systeme gefunden werden. Eine Zusammenstellung neuerer analytischer Arbeiten schliesst die Übersicht über die AnwendungsmÖglichkeiten der Hochfrequenzmesstechnik in der analytischen Chomie ab. It was shown that, on the basis of their properties as regards high-frequency technique, single-stage quartz oscillators can be used for the determination of dielectric constants, dielectric losses, and high-frequency conductivities. According to the properties to be measured, the measurements are carried out by a compensation method or a deflection method. In view of the measuring cells available, the technique can be applied in various ways to problems of chemical analysis, since relationships (mostly empirical) exist between the above-mentioned dielectric properties and the composition of chemical systems. A review of the possibilities of application of high-frequency measuring technique to analytical chemistry is given, as well as a collection of the most recent literature in this field." @default.
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