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- W2078961093 abstract "Die Anwendung des Rastertunnelmikroskops (Scanning Tunneling Microscope, STM) zum Studium von Metalloberflachen hat sich bis vor kurzem auf den Themenkreis der geometrischen Struktur (z.B. Wachstum, Inselbildung, Rekonstruktion) beschrankt. Dies erscheint etwas seltsam, wenn man bedenkt, das das STM eigentlich die Ladungsdichte an der Oberflache abtastet und deshalb fur Untersuchungen der elektronischen Struktur geradezu pradestiniert sein sollte. Wahrend tunnelspektroskopische Untersuchungen an Halbleitern schon fruh erfolgreich durchgefuhrt wurden, brachte auf Metallen erst die Verbindung von Tunnelmikroskopie und Tieftemperaturtechnik die zum Nachweis von elektronischen Struktureffekten notwendige Detektionsempfindlichkeit. Der folgende Beitrag beschreibt anhand mehrerer Beispiele, welche Moglichkeiten ein Tieftemperatur-STM fur das Studium von Elektronenzustanden an Metalloberflachen und deren Wechselwirkung mit Adsorbaten bietet." @default.
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