FRINK Linked Data Fragments server

Matches in SemOpenAlex for { <https://semopenalex.org/work/W2117654310> ?p ?o ?g. }

• W2117654310 endingPage "368" @default.
• W2117654310 startingPage "347" @default.
• W2117654310 abstract "The quantum Hall effect (QHE) discovery has revolutionized metrology by providing with a representation of the unit of resistance, RK, that can be reproduced within a relative uncertainty of one part in 109 and is theoretically only linked to Planckʼs constant h and the electron charge e. This breakthrough also results from the development of resistance comparison bridges using cryogenic current comparator (CCC). The QHE experimental know-how now allows the realization of perfectly quantized Quantum Hall Array Resistance Standards (QHARS) by combining a large number of single Hall bars. In the context of an evolution of the Système International (SI) of units by fixing some fundamental constants of physics, the determination of the von Klitzing constant RK through the use of the so-called Thompson–Lampard calculable capacitor and the realization of refined universality tests of the QHE are of prime importance. Finally, the fascinating graphene material might be a new turning point in resistance metrology. La découverte de lʼeffet Hall quantique (EHQ) a révolutionné la métrologie en fournissant une représentation de lʼunité de résistance, RK, qui peut être reproduite avec une incertitude relative de 10−9 et est théoriquement reliée seulement à la constante de Planck h et la charge de lʼélectron e. Cette révolution sʼest également appuyée sur le développement de ponts de comparaison de résistances équipés de comparateurs cryogéniques de courants (CCC). Le savoir-faire expérimental en EHQ permet désormais la réalisation dʼétalons de résistance combinant de nombreuses barres de Hall élémentaires en réseaux (QHARS) offrant des valeurs parfaitement quantifiées. Dans le contexte dʼune évolution du Système International (SI) dʼunités fondée sur la fixation de certaines constantes de la physique, la détermination de la constante de von Klitzing RK, qui utilise lʼétalon calculable de capacité de Thompson–Lampard, et la réalisation de tests dʼuniversalité de lʼEHQ plus précis sont essentiels. Enfin, le graphène, nouveau matériau fascinant, pourrait marquer un nouveau tournant de la métrologie des résistances." @default.
• W2117654310 created "2016-06-24" @default.
• W2117654310 creator A5013069981 @default.
• W2117654310 creator A5046018913 @default.
• W2117654310 creator A5073937504 @default.
• W2117654310 creator A5080825075 @default.
• W2117654310 creator A5090015783 @default.
• W2117654310 date "2011-05-01" @default.
• W2117654310 modified "2023-09-24" @default.
• W2117654310 title "Application of the quantum Hall effect to resistance metrology" @default.
• W2117654310 cites W1497043526 @default.
• W2117654310 cites W1601700513 @default.
• W2117654310 cites W1964465593 @default.
• W2117654310 cites W1965647794 @default.
• W2117654310 cites W1969966878 @default.
• W2117654310 cites W1978515977 @default.
• W2117654310 cites W1985473792 @default.
• W2117654310 cites W1988108161 @default.
• W2117654310 cites W1997743323 @default.
• W2117654310 cites W1998964224 @default.
• W2117654310 cites W2002901894 @default.
• W2117654310 cites W2005586885 @default.
• W2117654310 cites W2005741133 @default.
• W2117654310 cites W2008575768 @default.
• W2117654310 cites W2011295589 @default.
• W2117654310 cites W2014935324 @default.
• W2117654310 cites W2016387030 @default.
• W2117654310 cites W2017724148 @default.
• W2117654310 cites W2023507296 @default.
• W2117654310 cites W2026237155 @default.
• W2117654310 cites W2029627952 @default.
• W2117654310 cites W2031267639 @default.
• W2117654310 cites W2031839987 @default.
• W2117654310 cites W2033568293 @default.
• W2117654310 cites W2039794774 @default.
• W2117654310 cites W2043456131 @default.
• W2117654310 cites W2045545726 @default.
• W2117654310 cites W2054052369 @default.
• W2117654310 cites W2057345035 @default.
• W2117654310 cites W2058122340 @default.
• W2117654310 cites W2058554941 @default.
• W2117654310 cites W2059770635 @default.
• W2117654310 cites W2061000251 @default.
• W2117654310 cites W2068824512 @default.
• W2117654310 cites W2072791424 @default.
• W2117654310 cites W2080856592 @default.
• W2117654310 cites W2090196844 @default.
• W2117654310 cites W2090296656 @default.
• W2117654310 cites W2091084064 @default.
• W2117654310 cites W2091372782 @default.
• W2117654310 cites W2092188263 @default.
• W2117654310 cites W2092933892 @default.
• W2117654310 cites W2093699506 @default.
• W2117654310 cites W2097065227 @default.
• W2117654310 cites W2097967079 @default.
• W2117654310 cites W2098175292 @default.
• W2117654310 cites W2102896042 @default.
• W2117654310 cites W2105685140 @default.
• W2117654310 cites W2105732215 @default.
• W2117654310 cites W2110702963 @default.
• W2117654310 cites W2112041507 @default.
• W2117654310 cites W2118492507 @default.
• W2117654310 cites W2121772044 @default.
• W2117654310 cites W2125284466 @default.
• W2117654310 cites W2126945317 @default.
• W2117654310 cites W2129706268 @default.
• W2117654310 cites W2133987216 @default.
• W2117654310 cites W2134670412 @default.
• W2117654310 cites W2142015442 @default.
• W2117654310 cites W2148226925 @default.
• W2117654310 cites W2148699021 @default.
• W2117654310 cites W2155422709 @default.
• W2117654310 cites W2178552194 @default.
• W2117654310 cites W3097297264 @default.
• W2117654310 cites W3099127978 @default.
• W2117654310 cites W3103654224 @default.
• W2117654310 cites W3104308739 @default.
• W2117654310 cites W3104348612 @default.
• W2117654310 cites W3104479502 @default.
• W2117654310 cites W3104721158 @default.
• W2117654310 cites W4237914653 @default.
• W2117654310 doi "https://doi.org/10.1016/j.crhy.2011.04.008" @default.
• W2117654310 hasPublicationYear "2011" @default.
• W2117654310 type Work @default.
• W2117654310 sameAs 2117654310 @default.
• W2117654310 citedByCount "9" @default.
• W2117654310 countsByYear W21176543102013 @default.
• W2117654310 countsByYear W21176543102015 @default.
• W2117654310 countsByYear W21176543102017 @default.
• W2117654310 countsByYear W21176543102018 @default.
• W2117654310 countsByYear W21176543102019 @default.
• W2117654310 countsByYear W21176543102021 @default.
• W2117654310 crossrefType "journal-article" @default.
• W2117654310 hasAuthorship W2117654310A5013069981 @default.
• W2117654310 hasAuthorship W2117654310A5046018913 @default.
• W2117654310 hasAuthorship W2117654310A5073937504 @default.
• W2117654310 hasAuthorship W2117654310A5080825075 @default.
• W2117654310 hasAuthorship W2117654310A5090015783 @default.

• next