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- W2125384131 abstract "En este trabajo se evalua la capacidad de la estrategia de test denominada Metodo de Analisis de Transitorio para la deteccion de fallas parametricas . Estas fallas son definidas como violaciones en las especificaciones de un circuito debido a desviaciones estadisticas en los componentes. Consecuentemente, el circuito es declarado como defectuoso si al menos una de las especificaciones esta mas alla de los limites tolerables. Un filtro de segundo orden se adopta como caso de estudio para la realizacion de las evaluaciones propuestas. Las especificaciones son establecidas sobre los parametros de desempeno y los atributos de test son el tiempo de pico y la sobre elongacion de la respuesta transitoria. Para determinar la calidad del test , son generadas 8 poblaciones de 1.000 individuos. Cada individuo es obtenido asignando un valor aleatorio para sus componentes. Las poblaciones son obtenidas mediante el incremento de la variabilidad de los componentes, desde 3% hasta 10% en pasos de 1%. La evaluacion concurrente de las especificaciones y de los parametros de test permite establecer las metricas utilizadas para calificar al test. Los resultados de simulacion permiten concluir que mediante la medicion de los atributos de test propuestos es posible lograr un alto numero de buenas decisiones de test . Adicionalmente, es posible observar que la capacidad de deteccion de circuitos buenos es tambien elevada. A pesar de estos hechos, el numero de circuitos defectuosos que pasan el test podria ser inaceptable para aplicaciones que demanden una alta cobertura de fallas." @default.
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