Matches in SemOpenAlex for { <https://semopenalex.org/work/W2256331696> ?p ?o ?g. }
Showing items 1 to 31 of
31
with 100 items per page.
- W2256331696 endingPage "73" @default.
- W2256331696 startingPage "65" @default.
- W2256331696 abstract "본 논문에서는 저비용 SoC 테스트를 위한 테스트 설계 기술에 대해서 다룬다. IEEE 1500 랩드 코어를 SoC TAP (Test Access Port) 을 통하여 스캔 테스트를 수행하는 방법을 제시하고, 지연고장 테스트를 위한 테스트 클럭 생성회로를 설계한다. TAP의 신호만을 이용하여 SoC 테스트를 수행함으로써 테스트 핀 수를 줄일 수 있고, SoC 내부의 회로를 사용하여 지연고장 테스트를 수행함으로써 저가의 테스트 장비를 사용할 수 있다. 실험을 통하여 제시한 방식의 효율성을 평가하고, 서로 다른 주파수의 클럭을 사용하는 여러 코어의 지연고장 테스트를 동시에 수행 할 수 있음을 확인한다." @default.
- W2256331696 created "2016-06-24" @default.
- W2256331696 creator A5001712562 @default.
- W2256331696 creator A5004740984 @default.
- W2256331696 creator A5046309263 @default.
- W2256331696 creator A5079319259 @default.
- W2256331696 date "2007-11-01" @default.
- W2256331696 modified "2023-09-28" @default.
- W2256331696 title "저비용 SoC 테스트를 위한 IEEE 1500 래퍼 및 테스트 제어" @default.
- W2256331696 hasPublicationYear "2007" @default.
- W2256331696 type Work @default.
- W2256331696 sameAs 2256331696 @default.
- W2256331696 citedByCount "0" @default.
- W2256331696 crossrefType "journal-article" @default.
- W2256331696 hasAuthorship W2256331696A5001712562 @default.
- W2256331696 hasAuthorship W2256331696A5004740984 @default.
- W2256331696 hasAuthorship W2256331696A5046309263 @default.
- W2256331696 hasAuthorship W2256331696A5079319259 @default.
- W2256331696 hasConcept C41008148 @default.
- W2256331696 hasConceptScore W2256331696C41008148 @default.
- W2256331696 hasIssue "11" @default.
- W2256331696 hasLocation W22563316961 @default.
- W2256331696 hasOpenAccess W2256331696 @default.
- W2256331696 hasPrimaryLocation W22563316961 @default.
- W2256331696 hasVolume "44" @default.
- W2256331696 isParatext "false" @default.
- W2256331696 isRetracted "false" @default.
- W2256331696 magId "2256331696" @default.
- W2256331696 workType "article" @default.