Matches in SemOpenAlex for { <https://semopenalex.org/work/W618559997> ?p ?o ?g. }
Showing items 1 to 26 of
26
with 100 items per page.
- W618559997 abstract "Ces dernieres annees ont vu l'emergence de nouveaux composants micro-ondes, les micro-commutateurs MEMS RF, possedant des performances tres attrayantes pour de nombreux domaines d'application : spatial, automobile, telephonie mobile& Cependant, une problematique majeure retarde actuellement leur industrialisation : leur fiabilite. Ce manuscrit de these a pour but principal de mettre en place les procedures d'investigation de la fiabilite des MEMS RF comprenant le developpement des outils materiels et methodologiques permettant d'analyser et de modeliser les phenomenes regissant la fiabilite de ces composants. Le premier chapitre effectue un etat de l'art critique des bancs de tests et des resultats publies par les laboratoires internationaux travaillant sur la fiabilite des MEMS RF. Le second chapitre detaille le banc de fiabilite developpe dans le cadre de nos travaux. Nous presentons les differentes parties le constituant ainsi que les mesures des proprietes des MEMS RF qu'elles permettent d'effectuer en vue d'analyser leur fiabilite. Le troisieme chapitre se focalise sur la methodologie mise en place en vue d'etudier la fiabilite des micro-commutateurs capacitifs. Cette methodologie est basee sur la detection et l'analyse des modes de defaillance d'une part et sur la modelisation du mecanisme de defaillance d'autre part. Nous proposons ainsi un modele du chargement du dielectrique, principale cause de defaillance de ce type de composants, et introduisons un facteur de merite de la fiabilite des MEMS RF permettant une evaluation comparative de leur duree de vie. Dans un quatrieme chapitre, nous presentons les trois axes de recherche sur lesquels des etudes preliminaires ont ete effectuees en vue d'ameliorer la fiabilite des MEMS RF capacitifs : l'optimisation technologique, l'optimisation de la commande et l'optimisation de la topologie des micro-commutateurs" @default.
- W618559997 created "2016-06-24" @default.
- W618559997 creator A5029305108 @default.
- W618559997 date "2005-12-14" @default.
- W618559997 modified "2023-09-26" @default.
- W618559997 title "Analyse et modélisation des phénomènes de chargement de diélectriques dans les MEMS RF : application à la fiabilité prédictive de micro-commutateurs électromécaniques micro-ondes" @default.
- W618559997 hasPublicationYear "2005" @default.
- W618559997 type Work @default.
- W618559997 sameAs 618559997 @default.
- W618559997 citedByCount "2" @default.
- W618559997 countsByYear W6185599972013 @default.
- W618559997 crossrefType "dissertation" @default.
- W618559997 hasAuthorship W618559997A5029305108 @default.
- W618559997 hasConcept C121332964 @default.
- W618559997 hasConcept C138885662 @default.
- W618559997 hasConcept C15708023 @default.
- W618559997 hasConceptScore W618559997C121332964 @default.
- W618559997 hasConceptScore W618559997C138885662 @default.
- W618559997 hasConceptScore W618559997C15708023 @default.
- W618559997 hasLocation W6185599971 @default.
- W618559997 hasOpenAccess W618559997 @default.
- W618559997 hasPrimaryLocation W6185599971 @default.
- W618559997 isParatext "false" @default.
- W618559997 isRetracted "false" @default.
- W618559997 magId "618559997" @default.
- W618559997 workType "dissertation" @default.