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- W635561208 abstract "A partir dun diffusometre multi-sources (UV-MIR), nous avons developpe au laboratoire un ellipsometre base sur une modulation elasto-optique de la polarisation. Le premier objectif, par comparaison au montage polariseurs/analyseurs tournants, etait dameliorer les performances du dispositif, aussi bien en terme de precision que de rapidite. Les mesures sur champ speculaire ont tout dabord largement valide le banc et nous avons mis en oeuvre une methode pour detecter la presence de contamination sur un composant, sans avoir besoin de la connaissance prealable son indice de refraction. Dans une deuxieme etape, nous avons etendu les mesures a la determination angulaire du dephasage polarimetrique sur champ diffus. Dans le cas de composants faiblement perturbes, pour lesquels une theorie electromagnetique au premier ordre est utilisee, cette mesure permet de discriminer sans ambiguite lorigine, surfacique ou volumique, de la diffusion. Nous avons egalement mis en evidence les effets dinterferences entre ondes diffusees par les surfaces et volumes, grâce a la presence doscillations autour de la valeur moyenne du dephasage, et la sensibilite aux effets de decorrelation verticale dans les multicouches. Letude des composants tres heterogenes est egalement abordee dans le detail, en tenant compte des effets de depolarisation. Nous montrons comment les techniques precedentes permettent encore de discriminer les effets de surface et de volume. En particulier le dephasage polarimetrique mesure dans le speckle resolu du champ diffus, constitue une veritable signature des composants. A laide dune approche phenomenologique, on montre que lamplitude des oscillations du dephasage permet dextraire le taux de depolarisation angulaire. De facon plus generale, la methode dellipsometrie sur champ diffus permet une scrutation approfondie, tout en ouvrant la porte aux problemes inverses et de reconstruction en champ lointain." @default.
- W635561208 created "2016-06-24" @default.
- W635561208 creator A5080488900 @default.
- W635561208 date "2004-01-01" @default.
- W635561208 modified "2023-09-23" @default.
- W635561208 title "Ellipsométrie sur champ sépculaire et diffus : théorie et expérience" @default.
- W635561208 hasPublicationYear "2004" @default.
- W635561208 type Work @default.
- W635561208 sameAs 635561208 @default.
- W635561208 citedByCount "0" @default.
- W635561208 crossrefType "dissertation" @default.
- W635561208 hasAuthorship W635561208A5080488900 @default.
- W635561208 hasConcept C121332964 @default.
- W635561208 hasConcept C138885662 @default.
- W635561208 hasConcept C15708023 @default.
- W635561208 hasConceptScore W635561208C121332964 @default.
- W635561208 hasConceptScore W635561208C138885662 @default.
- W635561208 hasConceptScore W635561208C15708023 @default.
- W635561208 hasLocation W6355612081 @default.
- W635561208 hasOpenAccess W635561208 @default.
- W635561208 hasPrimaryLocation W6355612081 @default.
- W635561208 isParatext "false" @default.
- W635561208 isRetracted "false" @default.
- W635561208 magId "635561208" @default.
- W635561208 workType "dissertation" @default.