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- W77184595 abstract "Le cout et le temps de test eleves des testeurs RadioFrequences (RF) poussent a l'optimisation de test, voir meme a des methodes alternatives de test pour les circuits analogiques-mixtes RF. Jusqu'a present, le test des circuits RF etait effectue par la validation des specifications fonctionnelles du circuit. Cependant, a cause des contraintes imposees par les frequences en jeu de plus en plus elevees et par des temps de test les plus reduits possible, la mesure de certaines specifications fonctionnelles, meme sur testeurs dedies, n'est plus faisable. Il est ainsi necessaire de developper de nouvelles methodes de test permettant de repondre a ces besoins. Cette these a pour objectif de commencer le developpement d'un bouquet des circuits de test sur puce de type BIST (Built-In Self Test) le plus general possible pour les circuits RF afin de supporter l'etape de conception et d'optimiser le test de production. La validation de ces circuits de BIST est orientee defaut. Le developpement de la strategie de validation d'un circuit de BIST se base sur les points suivants : choix des mesures de test avec simulation du circuit sous test ; modelisation des mesures de test et de specifications du circuit sous test a travers simulations Monte-Carlo ; generation d'une population statistiquement plus representative a travers la theorie des Copules ; generation d'une liste de fautes qui peuvent se produire dans le circuits sous test ; simulations d'injection de fautes ; analyse des metriques de test telles que le taux de couverture, le taux de circuits defaillants qui passent le test (defect level) et le rejet de circuits fonctionnels par le test (yield loss). Ces travaux ont ete menes sur un cas d'etude industriel de type synthetiseur de frequence, PLL (Phase-Locked Loop), concu a STMicroelectronics." @default.
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