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- W793556500 abstract "Avec l’evolution des technologies vers la haute integration, il devient de plus en plus difficile de localiser les defaillances fonctionnelles situees dans la partie logique des circuits integres. En effet, la resolution spatiale fournie par les techniques actuelles n'est pas suffisante. Pour repondre a cette problematique, cette these propose une nouvelle approche qui combine le diagnostic ATPG et les techniques optiques. Cette methode a fait ses preuves sur de nombreux cas d'analyses pour l'amelioration des rendements de production. La methode utilisant les techniques optiques statiques et dynamiques, une contribution a l'amelioration de l'utilisation de ces techniques a egalement ete apportee par cette these." @default.
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