FRINK Linked Data Fragments server

Matches in SemOpenAlex for { <https://semopenalex.org/work/W888738363> ?p ?o ?g. }

• W888738363 endingPage "190" @default.
• W888738363 startingPage "181" @default.
• W888738363 abstract "The paper first describes the basic radiation-induced mechanisms such as transient effects, ionization phenomena and displacement damage. Subsequently, the impact of irradiation on advanced CMOS technology nodes is demonstrated in order to illustrate the underlying physical phenomena. Both bulk and silicon-on-insulator (SOI) technologies will be addressed. A third section discusses the present understanding and the difficulties associated with modeling of irradiation-induced device degradation. Finally, an outlook is given for some emerging semiconductor technologies such as e.g. SiGe, strained silicon, Ge and GeOI. Some aspects of cryogenic irradiations, of key importance for space applications, are also briefly mentioned." @default.
• W888738363 created "2016-06-24" @default.
• W888738363 creator A5000586827 @default.
• W888738363 creator A5030275438 @default.
• W888738363 date "2004-01-01" @default.
• W888738363 modified "2023-10-16" @default.
• W888738363 title "Physics and Modeling of Radiation Effects in Advanced CMOS Technology Nodes" @default.
• W888738363 cites W1940605987 @default.
• W888738363 cites W1968482003 @default.
• W888738363 cites W1970483274 @default.
• W888738363 cites W1980418204 @default.
• W888738363 cites W1986686826 @default.
• W888738363 cites W1992139276 @default.
• W888738363 cites W2003645630 @default.
• W888738363 cites W2007995891 @default.
• W888738363 cites W2012279714 @default.
• W888738363 cites W2015800576 @default.
• W888738363 cites W2015912834 @default.
• W888738363 cites W2021361520 @default.
• W888738363 cites W2025798900 @default.
• W888738363 cites W2033821287 @default.
• W888738363 cites W2042823366 @default.
• W888738363 cites W2044918792 @default.
• W888738363 cites W2068761329 @default.
• W888738363 cites W2116275715 @default.
• W888738363 cites W2122322008 @default.
• W888738363 cites W2126016557 @default.
• W888738363 cites W2144356562 @default.
• W888738363 cites W2149970473 @default.
• W888738363 cites W2153661801 @default.
• W888738363 cites W2154110017 @default.
• W888738363 cites W2155479675 @default.
• W888738363 cites W2169925409 @default.
• W888738363 cites W2170109091 @default.
• W888738363 cites W2577035775 @default.
• W888738363 doi "https://doi.org/10.1007/978-3-7091-0624-2_42" @default.
• W888738363 hasPublicationYear "2004" @default.
• W888738363 type Work @default.
• W888738363 sameAs 888738363 @default.
• W888738363 citedByCount "1" @default.
• W888738363 countsByYear W8887383632015 @default.
• W888738363 crossrefType "book-chapter" @default.
• W888738363 hasAuthorship W888738363A5000586827 @default.
• W888738363 hasAuthorship W888738363A5030275438 @default.
• W888738363 hasBestOaLocation W8887383632 @default.
• W888738363 hasConcept C108225325 @default.
• W888738363 hasConcept C111309251 @default.
• W888738363 hasConcept C119349744 @default.
• W888738363 hasConcept C119599485 @default.
• W888738363 hasConcept C120665830 @default.
• W888738363 hasConcept C121332964 @default.
• W888738363 hasConcept C127413603 @default.
• W888738363 hasConcept C145148216 @default.
• W888738363 hasConcept C153385146 @default.
• W888738363 hasConcept C171250308 @default.
• W888738363 hasConcept C185544564 @default.
• W888738363 hasConcept C192562407 @default.
• W888738363 hasConcept C198291218 @default.
• W888738363 hasConcept C24326235 @default.
• W888738363 hasConcept C2987978230 @default.
• W888738363 hasConcept C32921249 @default.
• W888738363 hasConcept C46362747 @default.
• W888738363 hasConcept C49040817 @default.
• W888738363 hasConcept C53143962 @default.
• W888738363 hasConcept C544956773 @default.
• W888738363 hasConcept C61696701 @default.
• W888738363 hasConcept C62520636 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C108225325 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C111309251 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C119349744 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C119599485 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C120665830 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C121332964 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C127413603 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C145148216 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C153385146 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C171250308 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C185544564 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C192562407 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C198291218 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C24326235 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C2987978230 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C32921249 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C46362747 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C49040817 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C53143962 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C544956773 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C61696701 @default.
• W888738363 hasConceptScore W888738363C62520636 @default.
• W888738363 hasLocation W8887383631 @default.
• W888738363 hasLocation W8887383632 @default.
• W888738363 hasOpenAccess W888738363 @default.
• W888738363 hasPrimaryLocation W8887383631 @default.
• W888738363 hasRelatedWork W2010481829 @default.
• W888738363 hasRelatedWork W2021766425 @default.
• W888738363 hasRelatedWork W2046708502 @default.
• W888738363 hasRelatedWork W2053520333 @default.
• W888738363 hasRelatedWork W2102344651 @default.

• next